Questões de Concurso Público INPE 2024 para Tecnologista Júnior I - Desenvolvimento de Sistemas Eletrônicos Digitais
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Em relação ao tema, analise as afirmativas a seguir.
I. Um circuito é classificado como tendo baixa confiabilidade quando existe uma alta probabilidade de falhas ocorrerem dentro de um intervalo de tempo específico.
II. Uma medida de confiabilidade da produção de circuitos eletrônicos consiste na análise de um lote específico, submetendo uma amostra a testes de uso ao longo de um período determinado, e calculando a taxa de falhas por unidade de tempo.
III. MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) é uma métrica de confiabilidade que mede o tempo exato que leva para um sistema falhar, fornecendo uma previsão precisa de quando as falhas ocorrerão durante sua vida útil operacional.
Está correto o que se afirma em
a. Resistor 100Ω, tolerância 1%, 200ppm / ºC, encapsulamento 0603, potência: 200 mW, P/N: ERJ-P03F1000V;
b. Resistor 100Ω, tolerância 5%, 250ppm / ºC, encapsulamento 0201, potência: 50mW, P/N: CR0201-JW-101GLF.
Considerando as normas que orientam as boas práticas em confiabilidade de circuitos eletrônicos, analise as afirmativas a seguir.
I. Para garantir o correto funcionamento do circuito, a variação de resistência em condições usuais de temperatura (25ºC) não pode ultrapassar o valor de 10Ω em relação ao valor nominal; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
II. Ambos os componentes são adequados para operar com correntes de até 20mA.
III. Após o ajuste do circuito, o resistor não pode apresentar um aumento superior a 2Ω, para uma temperatura de 75ºC; portanto, ambos os componentes são adequados para o projeto.
Está correto o que se afirma em
a. Modulo 01; quantidade de falhas: 3; horas de teste: 2500.
b. Modulo 02; quantidade de falhas: 7; horas de teste: 2500.
c. Modulo 03; quantidade de falhas: 5; horas de teste: 2000.
d. Modulo 04; quantidade de falhas: 4; horas de teste: 1000.
Considere que cada placa é composta por um módulo de cada tipo, que as falhas de cada módulo são estatisticamente independentes e que os módulos da placa eletrônica podem ser representados como um sistema em série.
Com base nessas informações, estima-se que o MTTF (Tempo Médio até a Falha) e o MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) da placa eletrônica sejam, respectivamente,
As lógicas das saídas A<B e A=B do comparador unsigned do circuito acima são, respectivamente,