Questões de Concurso
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Ano: 2016
Banca:
COPEVE-UFAL
Órgão:
UFAL
Prova:
COPEVE-UFAL - 2016 - UFAL - Engenheiro - Prevenção e Combate a Incêndio |
Q812345
Segurança e Saúde no Trabalho
O engenheiro de prevenção e combate a incêndio, durante a
supervisão dos serviços de instalação da rede de incêndio da
Universidade Federal de Alagoas, deparou-se com a realização de
serviços utilizando soldagem a arco elétrico. Diante da situação,
identificou os seguintes riscos: fumo metálico, radiações não
ionizantes e temperaturas extremas. Os riscos identificados são
classificados conforme a Norma Regulamentadora nº 09 (NR-09),
respectivamente, como
Ano: 2016
Banca:
COPEVE-UFAL
Órgão:
UFAL
Prova:
COPEVE-UFAL - 2016 - UFAL - Engenheiro - Prevenção e Combate a Incêndio |
Q812344
Segurança e Saúde no Trabalho
Em relação à Comissão Interna de Prevenção de Acidente (CIPA),
é correto afirmar:
Ano: 2016
Banca:
COPEVE-UFAL
Órgão:
UFAL
Prova:
COPEVE-UFAL - 2016 - UFAL - Engenheiro - Prevenção e Combate a Incêndio |
Q812343
Segurança e Saúde no Trabalho
A Universidade Federal de Alagoas preocupada com o conforto de
seus funcionários determinou ao profissional de segurança do
trabalho, que no uso de suas atribuições, dimensione suas
instalações sanitárias em conformidade com a Norma
Regulamentadora nº 24 (NR-24). Diante do exposto e tomando
como referência o efetivo de 340 funcionários em atividade, o
número correto de sanitários e lavatórios será de,
respectivamente, de
Ano: 2016
Banca:
COPEVE-UFAL
Órgão:
UFAL
Prova:
COPEVE-UFAL - 2016 - UFAL - Engenheiro - Prevenção e Combate a Incêndio |
Q812342
Segurança e Saúde no Trabalho
De acordo com a Norma Regulamentadora nº 08, assinale a
alternativa correta.
Ano: 2016
Banca:
COPEVE-UFAL
Órgão:
UFAL
Prova:
COPEVE-UFAL - 2016 - UFAL - Engenheiro - Prevenção e Combate a Incêndio |
Q812341
Segurança e Saúde no Trabalho
O profissional responsável pela segurança do trabalho da
empresa, ao averiguar a lista de votação do processo eleitoral da
Comissão Interna de Prevenção de Acidente (CIPA), constatou
que não houve a participação mínima de cinquenta por cento dos
empregados. Diante da situação e conforme determina a Norma
Regulamentadora nº 05 (NR-05), a comissão eleitoral deverá
organizar outra votação que ocorrerá no prazo máximo de
Ano: 2016
Banca:
COPEVE-UFAL
Órgão:
UFAL
Prova:
COPEVE-UFAL - 2016 - UFAL - Engenheiro - Prevenção e Combate a Incêndio |
Q812340
Segurança e Saúde no Trabalho
Qual dos símbolos tem como denominação vaso sobre pressão,
de acordo com a NBR 14.100 (Proteção contra
incêndio – Símbolos gráficos para projeto)?
Ano: 2016
Banca:
COPEVE-UFAL
Órgão:
UFAL
Prova:
COPEVE-UFAL - 2016 - UFAL - Engenheiro - Prevenção e Combate a Incêndio |
Q812339
Segurança e Saúde no Trabalho
A resolução do Conselho Nacional do Meio Ambiente (CONAMA)
estabelece que os coletores de resíduos radioativos sejam da cor
Q812338
Física
Os materiais semicondutores são de grande importância para a
eletrônica moderna. Em particular, o sucesso dos semicondutores
intrínseco se deve a uma propriedade elétrica que é controlada de
forma apropriada em laboratório pela adição de impurezas.
Que propriedade é essa?
Q812337
Física
Dadas as afirmativas relacionadas com a natureza da luz e suas
características de propagação,
I. No processo de polarização por reflexão numa interface arvidro,
a luz natural será totalmente polarizada, com o vetor
campo elétrico perpendicular ao plano de incidência, desde
que o ângulo de incidência seja igual ao ângulo de Brewster.
II. Um feixe luminoso está sujeito ao fenômeno da reflexão
interna total quando incide sobre a superfície de separação
de um meio com índice de refração menor para outro com
índice de refração maior.
III. A luz branca será decomposta em suas componentes
monocromáticas quando atravessar uma interface ar-vidro,
tendo a componente vermelha o ângulo de refração maior do
que a componente azul.
IV. O princípio de Huygens é um método de análise da óptica
geométrica que é usado para explicar o comportamento da
luz, como a reflexão e a refração, ao se propagar em diversos
meios.
verifica-se que estão corretas apenas
verifica-se que estão corretas apenas
Q812336
Física
O processo básico para gravação de um holograma em um meio
material requer a interação de ondas esféricas espalhadas pelo
objeto com ondas planas oriundas de uma fonte coerente.
Uma vez registrado o holograma, sua visualização exige um
procedimento chamado de processo de reconstrução que envolve
essencialmente o fenômeno de
Q812335
Física
O que limita a resolução espacial de um microscópio é a natureza
ondulatória da luz causando efeito de difração. Isso limita a região
espectral na microscopia tradicional para uma resolução de
200-300 nm, no melhor dos casos, com a exceção de sistemas de
fotolitografia utilizando luz ultravioleta no vácuo a que chega a
100 nm de resolução. Atualmente, para o limite da nanotecnologia,
desenvolveu-se a técnica de microscopia óptica de campo
próximo que quebra o limite de resolução de campo distante
explorando as propriedades de ondas evanescentes. Em ordem
de grandeza comparada com o comprimento de onda da luz
incidente, pode-se definir os limites para a difração de campo
próximo (difração de Fresnel) e a de campo distante (difração de
Fraunhofer) para diversas aplicações. Considerando uma fonte de
radiação no infinito, qual é a menor distância entre uma fenda
única com abertura de 0,50 mm e o anteparo de formação de
imagens para uma radiação de comprimento de onda de 500 nm
poder ser tratada como campo distante (difração de Fraunhofer)?
Q812334
Física
Quando um experimento de difração de luz em uma fenda é
montado em laboratório, as posições relativas da fonte de luz, do
obstáculo e do anteparo são importantes na definição do tipo de
abordagem a ser empregada na análise das medidas, por
exemplo, se é mais pertinente utilizar a difração de Fresnel ou a
difração de Fraunhofer. Quando a abordagem da difração de
Fresnel é a mais adequada, significa que os raios que emanam da
fenda
Q812333
Física
O conceito de bandas de energia, desenvolvido em 1928, permite
entender diversas propriedades dos sólidos. A natureza das
bandas de energia determina se um material é um isolante, um
semicondutor ou um condutor. Nos isolantes, no zero absoluto, a
banda de energia mais elevada que está completamente
preenchida de elétrons é a banda da valência. A banda mais
elevada seguinte, chamada de banda de condução, é
completamente vazia, não existem elétrons em seus estados.
A diferença de energia entre essas duas bandas é denominada de
“bandgap” do material isolante. No caso de materiais translúcidos,
como vidro ou cristal, por exemplo, qual a técnica espectroscópica
pode ser utilizada para determinação e estimativa dessa diferença
de energia?
Q812332
Física
Certos cristais semicondutores são sintetizados e apresentam
uma propriedade chamada atividade óptica, que é responsável por
girar a polarização de um feixe de luz polarizada ao atravessá-los
em uma determinada direção. Considere um cristal semicondutor
opticamente ativo em forma de cubo com 8 mm de aresta,
conforme mostrado na figura. Um feixe de laser incide
perpendicularmente ao plano xy do cristal com polarização – i e
emerge do outro lado com polarização + i. Qual a atividade óptica
do cristal?
Q812331
Física
Dispersão e absorção de radiação eletromagnéticas são duas
qualidades intimamente relacionadas. Um material dispersivo tem
obrigatoriamente a relação entre seu coeficiente de dispersão e o
índice de refração dada pela relação de Kramers-Kronig, por meio
das partes real e imaginária de sua susceptibilidade. Um meio
dielétrico típico tem múltiplos centros de ressonâncias
correspondendo a diferentes vibrações da rede e/ou eletrônicas.
Quando se trata de propagação de pulsos de luz em meios
somente com características dispersiva, quando efeitos ópticos
não lineares são desconsiderados, qual o comportamento
esperado desse pulso do ponto de vista temporal e espectral?
Q812330
Física
Radiação do tipo raios X possui energia relativamente alta e é
apropriada para investigar a estrutura cristalina de sólidos.
É possível, por meio de difração de raios X, investigar os arranjos
dos átomos e determinar suas distâncias em cristais com estrutura
desconhecida. Cobre metálico foi analisado em um experimento
de difração de raios X que produziu um pico de Bragg de primeira
ordem em um ângulo θ = 29º. O experimento foi realizado com
radiação de raios X de comprimento de onda de 1,2 angstroms.
Qual é o espaçamento mínimo, em angstroms, entre os planos de
difração formados pelos átomos do cobre metálico?
(Dado: sen 29° =0,48)
Q812329
Física
Laser para entrar em operação tem diversas condições físicas a
serem atendidas. Dentre elas há a especificação do material para
o meio ativo, sendo sólido, líquido ou gasoso. Com base no meio
ativo definem-se as propriedades do desenho da cavidade óptica.
Do ponto de vista do meio ativo, a distribuição espectral da
radiação laser gerada é determinada por dois fatores: pela forma
de linha do meio ativo e pelos modos da cavidade do oscilador.
De uma maneira mais específica, como podem ser exemplificadas
essas duas condições para a oscilação laser?
Q812328
Física
Feixes de luz laser geralmente são produzidos com intensidades
luminosas relativamente altas; entretanto, alguns experimentos de
investigação da matéria condensada em laboratórios de pesquisa
exigem intensidades ainda maiores que podem ser obtidas através
do uso de lentes colimadoras de feixes. Um feixe de laser de perfil
circular uniforme com 1,6 mm de diâmetro e 2 W de potência teve
seu diâmetro reduzido 8 vezes ao atravessar uma lente
convergente. Qual a Intensidade do feixe de laser no foco da
lente? (Use π = 3,14)
Q812327
Física
A microscopia eletrônica de varredura (MEV) é uma técnica
capaz de produzir imagens de alta ampliação (até 300.000 vezes)
e resolução. O princípio de funcionamento do MEV consiste na
emissão de feixes de elétrons por um filamento capilar de
tungstênio (eletrodo negativo), mediante a aplicação de uma
diferença de potencial que pode variar de 0,5 a 30 kV. Essa
variação de voltagem permite a variação da aceleração dos
elétrons, e também provoca o aquecimento do filamento. A parte
positiva em relação ao filamento do microscópio (eletrodo positivo)
atrai fortemente os elétrons gerados, resultando numa aceleração
em direção ao eletrodo positivo. A correção do percurso dos feixes
é realizada pelas lentes condensadoras que alinham os feixes em
direção à abertura da objetiva. A objetiva ajusta o foco dos feixes
de elétrons antes dos elétrons atingirem a amostra analisada.
Disponível em: <www.degeo.ufop.br/laboratorios/microlab/mev.htm . Acesso em: 20 jul. 2016.
Qual é o processo de formação de imagem do MEV e qual a outra
técnica analítica que pode ser associada ao equipamento?
Q812326
Física
Um experimento para fabricar micro ou nanoestruturas em um
substrato fotossensível pode ser feito expondo-se o material a um
padrão de intensidade luminoso não uniforme produzido pela
interferência de dois feixes coerentes. Considere dois feixes
coerentes de laser em 532 nm, oriundos da mesma fonte, e que
interferem entre si formando um ângulo de 60º. O padrão de
intensidade produzido pela interferência dos dois feixes incide em
um filme fotossensível e produz uma grade de difração de período
espacial Δ. Nesse contexto, o valor de Δ é
(Dado: sen 30° = 0,5)
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