Questões de Concurso Para ufcg

Amplificador de sinais.

Osciloscópio.

Analisador de espectro.

Frequencímetro.

Gerador de funções.

16 e 4 Ω

8 e 16 Ω

8 e 4 Ω

4 e 8 Ω

4 e 16 Ω

10 Ω

15 Ω

20 Ω

45 Ω

450 Ω

Tensão, corrente e potência.

Potência, resistência e voltagem.

Corrente, tensão e resistência.

Resistência, tensão e voltagem.

Voltagem, tensão e corrente.

Não faz jus ao adicional de periculosidade, por mais que a exposição seja permanente, uma vez que se trata de trabalho em instalação ou equipamento elétrico submetido a extra baixa tensão, conforme o Anexo 4 da Norma Regulamentadora (NR) Nº 16 e artigo 10 da ON Nº 4 - MPOG.

Não faz jus ao adicional de periculosidade, por mais que a exposição seja habitual, uma vez que se trata de trabalho em instalação ou equipamento elétrico submetido a extra baixa tensão, conforme o Anexo 4 da Norma Regulamentadora (NR) Nº 15 e artigo 10 da ON Nº 4 - MPOG.

Faz jus ao adicional de periculosidade, uma vez que a exposição é permanente e o trabalho é realizado em instalação ou equipamento elétrico, independentemente de estar submetido a extra baixa tensão, conforme o Anexo 4 da Norma Regulamentadora (NR) Nº 16 e artigo 10 da ON Nº 4 - MPOG.

Faz jus ao adicional de periculosidade, uma vez que a exposição é habitual e o trabalho é realizado em instalação ou equipamento elétrico, independentemente de estar submetido a extra baixa tensão, conforme o Anexo 4 da Norma Regulamentadora (NR) Nº 16 e artigo 10 da ON Nº 4 - MPOG.

Não faz jus ao adicional de periculosidade, uma vez que a exposição é esporádica, apesar de se tratar de trabalho em instalação ou equipamento, conforme o Anexo 4 da Norma Regulamentadora (NR) Nº 16 e artigo 10 da ON Nº 4 - MPOG.

Não faz jus a percepção do adicional de insalubridade, uma vez que a exposição ao risco não é habitual.

Faz jus a percepção do adicional de insalubridade, uma vez que a exposição ao risco é habitual.

Faz jus a percepção do adicional de insalubridade, uma vez que a exposição ao risco é habitual, mediante a apresentação do laudo técnico elaborado nos termos da Norma Regulamentadora (NR) Nº 15 que categorize a atividade como insalubre.

Não faz jus a percepção do adicional de insalubridade, uma vez que a exposição ao risco não é habitual, mesmo que apresente laudo técnico elaborado nos termos da Norma Regulamentadora (NR) Nº 15 e categorize a atividade como insalubre, uma vez que as Normas Regulamentadoras se aplicam apenas aos trabalhadores celetistas.

Faz jus a percepção do adicional de insalubridade, mesmo que a exposição ao risco não seja habitual, mediante a apresentação do laudo técnico elaborado nos termos da Norma Regulamentadora (NR) Nº 15 que categorize a atividade como insalubre.

Participar de curso básico sobre segurança em instalações e serviços com eletricidade com duração mínima de 20 horas, de acordo com o Anexo III da NR 10.

Participar de curso básico sobre segurança em instalações e serviços com eletricidade com duração mínima de 40 horas, de acordo com o Anexo III da NR 10.

Participar de curso básico com avaliação e aproveitamento satisfatórios sobre segurança em instalações e serviços com eletricidade com duração mínima de 20 horas, de acordo com o Anexo III da NR 10.

Participar de curso básico com avaliação e aproveitamento satisfatórios sobre segurança em instalações e serviços com eletricidade com duração mínima de 40 horas, de acordo com o Anexo III da NR 10.

Participar de curso básico sobre segurança em instalações e serviços com eletricidade com duração mínima de 40 horas, de acordo com o Anexo III da NR 10, bem como reciclagem bianual a respeito do Sistema Elétrico de Potência (SEP).

a espectroscopia de infravermelho com transformada de Fourier (FTIR) pode ser realizada usando o método de transmissão ou os métodos de reflectância e os métodos de reflectância apresentam uma maior relação sinal/ruído que o de transmissão.

os espectros no modo de transmitância são mais apropriados para análise da região de impressão digital e os espectros no modo de absorbância são mais adequados para análise da região relacionada aos grupos funcionais.

durante a preparação de amostras sólidas confeccionadas pela técnica de pastilhamento com KBr deve-se adicionar entre 5 e 10% de água na mistura de KBr e amostra, para possibilitar um maior plasticidade e resistência na pastilha e melhorar a qualidade do resultado final.

amostras poliméricas na forma de filme que são submetidas a FTIR utilizando o método de transmissão devem apresentar espessura de no mínimo 1mm para a geração adequada de sinal no espectro detectado.

a espectroscopia de infravermelho com transformada de Fourier (FTIR) pode ser utilizada na caracterização de amostras sólidas, líquidas e gasosas

a espectroscopia de infravermelho com transformada de Fourier (FTIR) é utilizada para determinação da composição química de materiais poliméricos.

moléculas com centro de simetria apresentam apenas vibrações inativas no infravermelho.

vibrações simétricas de alongamento de uma molécula diatômica homonuclear são inativas no infravermelho.

moléculas devem apresentar dipolo permanente para apresentar vibrações ativas no infravermelho.

a faixa do espectro denominada de região de impressão digital compreende a faixa de 2500 a 4000cm^-1 .

Físicos devido aos fumos metálicos emitidos.

Químicos devido aos fumos metálicos emitidos.

Químicos devido aos fumos metálicos emitidos e ao risco de acidentes devido ao choque elétrico quando da operação de brasagem.

Físicos devido aos fumos metálicos emitidos e ao risco de acidentes devido ao choque elétrico quando da operação de brasagem de componentes eletrônicos.

Físicos devido aos fumos metálicos emitidos, bem como a exposição a temperaturas elevadas, característica do processo de brasagem de componentes eletrônicos, e ao risco de acidentes devido ao choque elétrico quando da operação de brasagem.

difração de raios X, microscopia eletrônica de varredura e microanálise durante a microscopia.

difração de raios X, calorimetria diferencial de varredura e microscopia eletrônica de varredura.

difração de raios X, espectroscopia de fluorescência de raios X e calorimetria diferencial de varredura.

calorimetria diferencial de varredura, microscopia eletrônica de varredura e microanálise durante a microscopia

dilatometria, espectroscopia de fluorescência de raios X e calorimetria diferencial de varredura.

Apenas utilizar o EPI.

Utilizar o EPI para a finalidade a que se destina, além de responsabilizar-se por sua guarda e conservação.

Utilizar o EPI, além de responsabilizar-se por sua guarda e conservação.

Utilizar o EPI para a finalidade a que se destina, além de responsabilizar-se por sua guarda e conservação, além de comunicar ao empregador qualquer alteração que torne o EPI impróprio para o uso.

Utilizar o EPI, além de responsabilizar-se por sua conservação, além de comunicar ao empregador qualquer alteração que torne o EPI impróprio para o uso.

a espectroscopia de fluorescência de raios X utiliza raios X ou elétrons como fonte de excitação dos átomos dentro do material e determina o peso molecular dos materiais poliméricos.

a espectroscopia de fluorescência de raios X pode utilizar dois tipos de detectores um baseado em energia dispersiva (EDS) e outro em comprimento de onda dispersivo (WDS).

a espectroscopia de fluorescência de raios X identifica as fases cristalográficas presentes na amostra.

o detector do tipo WDS é o mais eficiente e possui maior rapidez no ensaio e precisa de nitrogênio líquido para sua operação.

a espectroscopia de fluorescência de raios X pode ser usada para análise de líquidos e a análise de amostras líquidas requer que as amostras sejam submetidas a alto vácuo durante o ensaio.

a microanálise permite analisar a composição química pontual e a distribuição dos elementos químicos presentes na amostra.

a microanálise baseia-se no princípio da fluorescência de raios X e permite identificar os constituintes cristalinos presentes na amostra.

a microanálise baseia-se no princípio da fluorescência de raios X e permite analisar tensões presentes dentro da amostra.

a microanálise baseia-se no princípio da difração de raios X e permite analisar a distribuição dos constituintes cristalinos presentes na amostra.

a microanálise baseia-se no princípio da difração de raios X e permite analisar através de mapeamento a distribuição de tensões presentes dentro da amostra.

amostras metálicas precisam ser recobertas com ouro ou carbono antes do ensaio para evitar carregamento.

o contraste topográfico só deve ser realizado em amostras cujas superfícies tenham sido submetidas a polimento metalográfico.

amostras cerâmicas na forma de pó não precisam ser metalizadas para a realização do ensaio de microscopia eletrônica de varredura.

o tamanho de grão de materiais cerâmicos e de materiais metálicos deve ser determinado utilizando amostras cujas superfícies tenham sido submetidas a polimento metalográfico e em seguida a ataque térmico e ácido, respectivamente.

a análise da superfície de fratura de amostras poliméricas deve ser realizada após polimento metalográfico e ataque ácido da superfície.

o contraste composicional (também conhecido por contraste de número atômico) e a análise da distribuição dos elementos na superfície da amostra são baseados na detecção de elétrons secundários.

o contraste topográfico e a análise morfológica da superfície da amostra são baseados na detecção de elétrons retroespalhados e na posição do seu detector.

o tipo de canhão de emissão de elétrons, termiônico ou de emissão de campo (FEG), não influencia na resolução do ensaio.

para melhorar a resolução da análise deve-se aumentar a distância de trabalho, aumentar o brilho e diminuir o diâmetro da abertura da objetiva.

para melhorar a resolução da análise deve-se diminuir a distância de trabalho, aumentar o brilho e aumentar o diâmetro da abertura da objetiva.

difração de raios X, análise térmica diferencial e microscopia eletrônica de varredura.

difração de raios X, fluorescência de raios X e microscopia eletrônica de varredura

fluorescência de raios X, análise térmica diferencial e difração de raios X

fluorescência de raios X, análise térmica diferencial e microscopia eletrônica de varredura

análise termogravimétrica, microscopia eletrônica de varredura e fluorescência de raios X

materiais poliméricos como o polipropileno e o polietileno não apresentam picos de difração de raios X.

materiais cerâmicos como o TiO₂ e o Al₂O₃ não apresentam picos de difração quando se utiliza a radiação CuKa e é necessário o uso da radiação MoKa para a caracterização do TiO₂ e do Al₂O₃

é possível a determinação da composição química de materiais cerâmicos.

é possível a quantificação de impurezas de íons metálicos presentes nos biomateriais usados em próteses mamárias de silicone.

é possível a determinação das fases cristalográficas de materiais metálicos.

para o ensaio utilizando difratômetro e amostras na forma de pó, método do pó, é importante que as amostras apresentem tamanho de partícula superior a 500µm

na difração de raios X pelo método do pó, as partículas devem ser orientadas e esta orientação aumenta a intensidade de difração de todos os picos de difração inerentes a amostra.

para o ensaio utilizando difratômetro, com λ fixo e θ variável, é mais indicado o uso de amostras na forma sólida para aumentar a intensidade de todos os picos de difração inerentes a amostra.

para o ensaio utilizando difratômetro e amostras na forma de pó, método do pó, é importante que as amostras apresentem tamanho de partícula inferior a 45µm.

a difração de raios X de amostras na forma de pó pode ser realizada utilizando-se a geometria θ-θ ou a θ-2θ e essas duas geometrias impossibilitam o uso de monocromadores.

a difração de raios X é utilizada para a caracterização de materiais cristalinos e amorfos e não é indicada para caracterização de materiais quasicristalinos e semicristalinos.

a difração de raios X fornece a composição química de materiais cristalinos

a difração de raios X pode ser executada utilizando basicamente três metodologias de ensaio, método do pó, método de Laue ou método do cristal rotatório e utilizar radiação monocromática ou policromática, conforme a metodologia

a difração de raios X fornece parâmetros de rede de materiais amorfos e pode ser usada para determinação do seu tamanho de cristalito.

a Lei de Bragg indica que quanto maior o espaçamento (distância) interplanar maior o ângulo de difração de raios X.