Questões de Engenharia Eletrônica para Concurso

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Q1828154 Engenharia Eletrônica

Observe o circuito capacitivo abaixo com o correspondente diagrama fasorial: 


Imagem associada para resolução da questão


No caso de a frequência do gerador aumentar, mantendo a tensão constante, os valores das grandezas XC – I – VC – VR vão, respectivamente, variar do seguinte modo: 

Alternativas
Q1828153 Engenharia Eletrônica
No que se refere aos materiais semicondutores, analise as afirmativas a seguir:
I. Os semicondutores são elementos tetravalentes, possuindo quatro elétrons na camada de valência, sendo os mais comuns e mais utilizados o silício (Si) e o germânio (Ge). II. No semicondutor do tipo N, o número de elétrons livres é maior que o número de lacunas. Neste semicondutor, os elétrons livres são portadores majoritários e as lacunas são portadores minoritários. III. No semicondutor do tipo P, o número de lacunas é maior que o número de elétrons livres. Neste semicondutor, as lacunas são portadores majoritários e os elétrons livres são portadores minoritários.
Assinale  
Alternativas
Q1828152 Engenharia Eletrônica
Materiais condutores são aqueles que oferecem muito baixa resistência à passagem da corrente elétrica. Três exemplos de materiais condutores são 
Alternativas
Q1828150 Engenharia Eletrônica
Um perito da especialidade engenharia eletrônica está usando um osciloscópio em uma investigação que envolve um experimento e precisou realizar algumas medições. Nesse contexto, a figura a seguir ilustra a tela do osciloscópio utilizado: 
Imagem associada para resolução da questão

Para produzir a forma de onda mostrada, a varredura foi ajustada de modo que o feixe gaste 0,2 ms para ir de A para B. Nessas condições, a frequência de onda é igual ao seguinte valor:  
Alternativas
Q1771950 Engenharia Eletrônica
Considere-se o seguinte arranjo representado na figura abaixo contendo uma unidade submetida ao teste (UUT), equipamento apropriado para teste (ATE), um dispositivo de testes (SE) e um software específico para o teste.

Imagem associada para resolução da questão Fonte: Jones (2006)
Com o propósito de reduzir o número de diferentes equipamentos necessários para testar um item de equipamento, deve-se:
Alternativas
Respostas
566: B
567: E
568: E
569: D
570: A