Para estudar a estrutura cristalina de um substrato semicond...
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Q812317
Física
Para estudar a estrutura cristalina de um substrato semicondutor
utilizado no desenvolvimento de dispositivos microestruturados,
um técnico dos Laboratórios de Microtecnologia Aplicada utiliza a
técnica de difração de raios X. Segundo indicação do fabricante
do difratômetro de raios X, que utiliza a técnica de medição na
configuração θ-2θ, conforme indicado na figura, o comprimento de
onda da radiação é 0,229 nm.
Se o técnico observou o primeiro pico de difração em 114,7°, qual é a distância interplanar da estrutura cristalina?
Se o técnico observou o primeiro pico de difração em 114,7°, qual é a distância interplanar da estrutura cristalina?
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