Questões de Concurso
Para ufma
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Em uma medida de difração de raios X de um filme fino policristalino, utiliza-se a geometria de incidência rasante. Neste tipo de medida, quais elementos óticos precisam ser utilizados para se obter a medida nas condições ideais?
Na geometria Bragg-Brentano, o feixe de raios X que incide na amostra é:
Em uma medida de difração de raios X em policristais, realizada com radiação Cu Kα, quais elementos químicos geram fluorescência e aumentam o background da medida?
Quais fatores contribuem para a largura à meia altura de um pico de difração em policristais?
Qual efeito pode aparecer em uma medida de difração de raios X em policristais se uma amostra na forma de pó não é bem moída e peneirada?