Questões de Concurso Para ufma

Espelho de Göbel e Colimador de placas paralelas (também chamado de soller equatorial).

Monocromador de feixe incidente e Colimador de placas paralelas (também chamado de soller equatorial).

Espelho de Göbel e Monocromador de feixe difratado.

Monocromador de feixe incidente e monocromador de feixe difratado.

Uma fenda na saída do tubo de raios X e uma fenda na frente do detector.

ondulado

convergente

paralelo

divergente

curvo

Fe e Ni

Fe e Co

Fe e Cu

Cu e Ni

Co e Cu

Apenas microstrain

Apenas tamanho de cristalito e microstrain

Apenas largura instrumental do difratômetro

Apenas tamanho de cristalito

Largura instrumental do difratômetro, tamanho de cristalito e microstrain

Direção preferencial

Deslocamento dos picos de difração

Alargamento dos picos de difração

Desaparecimento de picos de difração

Aumento do background

Fe₂O₃

LaB₆

Si

ZrO₂

GaAs

1

4

2

6

8

U, V, X e Y

U, V e W

X e Y

U, V, W e P

U, V, W, X e Y

F₁₁₂ = 3f

F₁₁₂ = f

F₁₁₂ = 2f

F₁₁₂ = 4f

F₁₁₂ = 5f

3,02

4,16

3,57

4,79

3,19

9

6

7

5

8

2,56

3,62

4,04

5,32

3,78

Filtro de Cu. Porque os átomos de Cu espalham fortemente os fótons da radiação Cu Kβ.

Filtro de Cu. Porque os átomos de Cu absorvem fortemente a energia dos fótons da radiação Cu Kβ.

Filtro de Ni. Porque os átomos de Ni espalham fortemente os fótons da radiação Cu Kβ.

Filtro de Ni. Porque os átomos de Ni absorvem fortemente a energia dos fótons da radiação Cu Kβ.

Filtro de Pb. Porque os átomos de Pb espalham fortemente os fótons da radiação Cu Kβ.

1 – Raios X contínuos, 2 – elétrons Auger, 3 – catodoluminescência

1 – Elétrons secundários, 2 – elétrons retroespalhados, 3 – elétrons transmitidos

1 – Florescência de raios X, 2 – elétrons difratados, 3 – elétrons secundários

1 – Elétrons difratados, 2 – raios X característicos, 3 – elétrons retroespalhados

1 – Elétrons retroespalhados, 2 – elétrons Auger, 3 – elétrons secundários

São os elétrons que atravessam a amostra e são detectados pelo detector posicionado abaixo do estágio da amostra.

Os elétrons são ejetados da amostra devido a colisões inelásticas entre os elétrons primários e os elétrons da banda de condução de amostras metálicas ou da banda de valência em semicondutores e isolantes.

São elétrons provenientes da camada externa da amostra que são fracamente ligados e recebem energia cinética suficiente durante o espalhamento inelástico do feixe primário.

São produzidos por uma sequência de colisões elásticas e inelásticas entre os elétrons do feixe primário e os átomos da amostra.

Uma das suas principais características é a baixa energia cinética de escape a partir da amostra analisada.

a irradiação com o feixe de elétrons sobre a amostra resulta na perda de energia do feixe na forma de calor.

ocorre principalmente pelo mau posicionamento do espécime analisado no estágio da amostra.

é frequente em amostras metálicas, que constantemente derretem com a elevada energia do feixe de elétrons.

Pode ser minimizado com a diminuição da distância de trabalho (work distance - WD).

Pode ser minimizado com a diminuição do diâmetro da sonda de elétrons (spot size).

O range do feixe de elétrons na amostra é dependente da energia do feixe, do tipo de detector e dos parâmetros da amostra.

O espalhamento elástico dos elétrons do feixe impossibilita o efeito de retrodifusão no volume da amostra.

A probabilidade de um espalhamento elástico diminui fortemente com aumento do número atômico Z.

A interação do feixe de elétrons com os átomos da amostra pode defletir os elétrons do feixe em uma nova trajetória.

A profundidade de interação do feixe de elétrons (range de elétrons) no volume da amostra tende a aumentar com o aumento da inclinação da amostra.

1 – Canhão de elétrons, 2 – sistema de varredura, 3 – lentes condensadoras, 4 – lentes objetivas

1 – Canhão de elétrons, 2 – lentes objetivas, 3 – detectores de elétrons, 4 – suporte da amostra

1 – Canhão de elétrons, 2 – detectores de elétrons, 3 – lentes condensadoras, 4 – lentes objetivas

1 – Canhão de elétrons, 2 – controle de de magnificação, 3 – detectores de elétrons, 4 – amplificador

1 – Canhão de elétrons, 2 – lentes condensadoras, 3 – sistema de varredura, 4 – lentes objetivas

A microanálise composicional oferece, de forma direta, dados quantitativos dos elementos presentes na amostra, sem a necessidade de prévia calibração.

Por meio da microanálise por energia dispersiva, é possível obter o mapa composicional da região analisada, possibilitando a correlação entre a microestrutura e a composição química detalhada.

Os espectros de raios X podem ser emitidos para todos os elementos da tabela periódica, exceto para o Hidrogênio (H), Hélio (He), Lítio (Li) e Berílio (Be).

Para detecção dos raios X caraterísticos emitidos por uma amostra, o material da janela do detector de energia dispersiva é geralmente o tungstênio, pois esse material aumenta a eficiência do detector.

A quantidade dos elementos químicos presente numa amostra não influencia na identificação qualitativa dos mapas composicionais de energia dispersiva.

Nesse processo, um fóton é absorvido e sua energia é parcialmente transferida para um elétron orbital que é ejetado com energia cinética maior do que a energia do fóton menos a energia de ligação.

O coeficiente de absorção de um elemento para sua própria radiação é alto, devido à energia da radiação, característica de um elemento ser maior que a energia cinética de ejeção.

o espalhamento inelástico de raios X, no processo de absorção, é pequeno, quando comparado com as dimensões micrométricas de investigação em uma microanálise.

Na Microscopia Eletrônica de Varredura, não há processo de absorção de raios X nas amostras analisadas.

A absorção fotoelétrica por elétrons, em uma camada específica, requer que a energia do fóton seja menor que a energia de ligação do elétron para aquela camada.