O avanço tecnológico dos Circuitos Integrados (CI) elevou a...

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Q683600

Ano: 2015 Banca: Aeronáutica Órgão: EEAR Prova: Aeronáutica - 2015 - EEAR - Sargento da Aeronáutica - Eletrônica |

Q683600 Eletrônica

O avanço tecnológico dos Circuitos Integrados (CI) elevou a eficiência da eletrônica embarcada no ambiente da aviação. No entanto, cuidados são necessários quando do manuseio desses CI’s. Após analisar um dispositivo MOSFET danificado por descarga eletrostática, a Sargento Ana constatou que

Imagem associada para resolução da questão

o dano causou aumento no valor do Fan-Out do MOSFET.

houve um aumento regular na espessura da camada do óxido que compõe a estrutura do MOSFET.

a descarga eletrostática causou rompimento na camada de óxido que compõem a estrutura do MOSFET.

o terminal Porta, do MOSFET, apresentou maior controle sobre a corrente que flui entre os terminais Dreno e Fonte.

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