A difratometria de raios X corresponde a uma das ...

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Q319750

Ano: 2013 Banca: CETRO Órgão: ANVISA Prova: CETRO - 2013 - ANVISA - Especialista em Regulação - Vigilância Sanitária – Área 1 - Prova Anulada |

Q319750 Farmácia

A difratometria de raios X corresponde a uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicações em diversos campos do conhecimento. É correto afirmar que, na difratometria de raios X,

a intensidade de difração de raios X independe do número de elétrons dos átomos em um dado plano cristalino.

a difração de raios X está relacionada ao espalhamento elástico dos raios X incidentes sobre uma amostra.

as condições para que ocorra a difração de raios X vão depender apenas do comprimento de onda da radiação incidente.

a determinação de tamanho de cristalitos refere-se a uma medida direta, sem a necessidade de comparação com padrão ou calibração instrumental.

os planos de difração e suas respectivas distâncias interplanares, bem como as densidades de átomos, são características comuns a várias substâncias cristalinas.

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