Questões de Concurso Para cti

Julgue o seguinte item, a respeito da técnica de microscopia eletrônica de varredura. 

Quando amostras não condutoras são submetidas à ação do feixe de elétrons, ocorre o carregamento eletrostático da superfície do material; em decorrência disso, podem ocorrer contrastes irregulares, deformação e deslocamento da imagem, e microanálises de regiões diferentes das consideradas.

Julgue o seguinte item, a respeito da técnica de microscopia eletrônica de varredura. 

Na microscopia eletrônica de varredura, as amostras são espessas o suficiente para se assumir que o feixe eletrônico é totalmente desacelerado na amostra. 

Julgue o seguinte item, a respeito da técnica de microscopia eletrônica de varredura. 

O feixe de elétrons retroespalhados é gerado por efeito termoiônico, colimado através de uma coluna ótico-eletrônica e conduzido à câmara que contém a amostra; ao focalizar um ponto da amostra, esse feixe de elétrons gera sinais que são captados e amplificados, fornecendo um sinal elétrico que gera a imagem. 

Julgue o seguinte item, a respeito da técnica de microscopia eletrônica de varredura. 

Na microscopia eletrônica de varredura, os sinais emitidos encontram-se sob a forma de elétrons e de fótons, os quais são captados por detectores apropriados, sendo amplificados e processados em um sistema analisador específico para cada tipo de sinal.

Julgue o seguinte item, a respeito da técnica de microscopia eletrônica de varredura. 

As amostras orgânicas são compostas de elementos leves, o que facilita o espalhamento eletrônico e, consequentemente, o contraste na microscopia eletrônica de varredura.