Questões de Concurso Para tecnologista pleno

Julgue o item que se segue, relacionados ao éxciton.

O aprisionamento de éxcitons na rede cristalina se dá basicamente por três principais motivos: formação de self-trapped éxcitons intrínsecos; formação de defeitos (trapped ou bound éxcitons); e formação de self-trapped éxcitons extrínsecos. 

Julgue o seguinte item, a respeito da técnica de microscopia eletrônica de varredura. 

Quando amostras não condutoras são submetidas à ação do feixe de elétrons, ocorre o carregamento eletrostático da superfície do material; em decorrência disso, podem ocorrer contrastes irregulares, deformação e deslocamento da imagem, e microanálises de regiões diferentes das consideradas.

Julgue o seguinte item, a respeito da técnica de microscopia eletrônica de varredura. 

Na microscopia eletrônica de varredura, as amostras são espessas o suficiente para se assumir que o feixe eletrônico é totalmente desacelerado na amostra. 

Julgue o seguinte item, a respeito da técnica de microscopia eletrônica de varredura. 

O feixe de elétrons retroespalhados é gerado por efeito termoiônico, colimado através de uma coluna ótico-eletrônica e conduzido à câmara que contém a amostra; ao focalizar um ponto da amostra, esse feixe de elétrons gera sinais que são captados e amplificados, fornecendo um sinal elétrico que gera a imagem. 

Julgue o seguinte item, a respeito da técnica de microscopia eletrônica de varredura. 

Na microscopia eletrônica de varredura, os sinais emitidos encontram-se sob a forma de elétrons e de fótons, os quais são captados por detectores apropriados, sendo amplificados e processados em um sistema analisador específico para cada tipo de sinal.