Questões de Concurso Para tecnologista pleno

Foram encontradas 1.292 questões

Resolva questões gratuitamente!

Junte-se a mais de 4 milhões de concurseiros!

Ano: 2008 Banca: CESPE / CEBRASPE Órgão: INPE
Q1199091 Engenharia de Software

Com relação a engenharia de software, julgue o item que segue.

A escolha adequada da arquitetura de um software contribui para facilitar a implementação, o teste e a manutenção, quando necessária, de um sistema.

Alternativas
Ano: 2008 Banca: CESPE / CEBRASPE Órgão: INPE
Q1197678 Programação

No que se refere a JavaBeans, julgue o item a seguir.

Quando uma propriedade constrained é modificada, os beans interessados são notificados via uma exceção PropertyChangeEvent. Por sua vez, a modificação de uma propriedade bound pode ser vetada por beans interessados. Para que um bean vete a modificação de uma propriedade bound, ele deve lançar uma exceção da classe PropertyVetoException.

Alternativas
Ano: 2008 Banca: CESPE / CEBRASPE Órgão: INPE
Q1197604 Programação

No que se refere a JavaBeans, julgue o item a seguir.

A API JavaBeans provê design patterns que possibilitam que ferramentas descubram quais eventos cada bean pode notificar. Para um bean ser uma fonte de evento, ele deve prover métodos por meio dos quais possam ser acrescentados e removidos os identificadores dos objetos interessados no evento. Os design patterns definidos para esses métodos são os seguintes.

public void add<EventListenerType>(<EventListenerType> a)

public void remove<EventListenerType>(<EventListenerType> a)

Alternativas
Ano: 2014 Banca: CETRO Órgão: AEB
Q1188047 Física
Uma onda é um movimento causado por uma perturbação, uma energia que se propaga através do meio, contudo esse meio não acompanha a propagação. Sobre as ondas eletromagnéticas, é correto afirmar que
Alternativas
Ano: 2004 Banca: CESPE / CEBRASPE Órgão: MCTI
Q1187642 Engenharia Elétrica
A caracterização e a análise de propriedades elétricas e ópticas de materiais e dispositivos (eletrônicos e eletrópticos) é atividade de interesse fundamental no desenvolvimento das tecnologias de informação. Quanto a esse tema, julgue o item que se segue.
Medidas de capacitância versus tensão em estruturas MIS permitem avaliar a presença de defeitos no dielétrico e na interface dielétrico-semicondutor.
Alternativas
Respostas
736: C
737: E
738: C
739: D
740: C